位置校正用プレート及びこれを用いた撮像装置並びに位置校正方法

開放特許情報番号
L2018001189
開放特許情報登録日
2018/6/5
最新更新日
2018/6/5

基本情報

出願番号 特願2016-122190
出願日 2016/6/20
出願人 国立大学法人千葉大学
公開番号 特開2017-225516
公開日 2017/12/28
発明の名称 位置校正用プレート及びこれを用いた撮像装置並びに位置校正方法
技術分野 食品・バイオ、化学・薬品
機能 機械・部品の製造
適用製品 位置校正用プレート及びこれを用いた撮像装置並びに位置校正方法
目的 より簡便な構成で正確に位置校正を行うことのできる位置校正用プレート及びこれを用いた撮像装置並びに位置校正方法を提供する。
効果 より簡便な構成で正確に位置校正を行うことのできる位置校正用プレート及びこれを用いた撮像装置並びに位置校正方法を提供することができる。
技術概要
本発明の一観点に係る位置校正用プレートは、少なくとも一対の対向する辺において異なる形状の凹凸が形成された枠部材を複数重ね合わせたものである。
また、本発明の他の一観点に係る撮像装置は、放射線を放出する線源と、線源からの放射線を検出する放射線検出器と、線源と放射線検出器の間に配置される位置校正用プレートと、を備えた撮像装置であって、位置校正用プレートは、少なくとも一対の対抗する辺において異なる形状の凹凸が形成された枠部材を複数重ね合わせた位置校正用プレートである。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT