粒径測定システムおよび粒径測定方法

開放特許情報番号
L2018001172
開放特許情報登録日
2018/6/27
最新更新日
2018/6/27

基本情報

出願番号 特願2016-117164
出願日 2016/6/13
出願人 学校法人 東洋大学
公開番号 特開2017-223466
公開日 2017/12/21
発明の名称 粒径測定システムおよび粒径測定方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 粒径測定システムおよび粒径測定方法
目的 簡易且つ低コストで微粒子の粒径を測定することのできる粒径測定システムおよび粒径測定方法を提供する。
効果 本発明によれば、簡易且つ低コストで微粒子の粒径を測定することのできる粒径測定システムおよび粒径測定方法を提供することができる。
技術概要
被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定システムであって、
コヒーレント光を出射する光源と、
微粒子を導入する前の前記コヒーレント光および導入された微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備え、
前記画像処理手段は、
前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析手段と、
全回折光の強度を積算して全回折光強度の総量を計測する全回折光強度計測手段と、
を有し、
前記粒径算出手段は、
導入される前記微粒子の供給量が一定の条件において、全回折光強度の総量をi、微粒子半径をr、比例定数をkとした場合に、次式
r=√(k/i)
により前記微粒子の半径を算出すると共に、この半径に基いて粒径を算出することを特徴とする粒径測定システム。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人東洋大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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