| 出願番号 |
特願2019-546534 |
| 出願日 |
2018/6/25 |
| 出願人 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 |
WO2019/069512 |
| 公開日 |
2019/4/11 |
| 登録番号 |
特許第6971496号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 発明の名称 |
測定必要個数決定のための情報処理装置、方法及びプログラム |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造 |
| 適用製品 |
測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法 |
| 目的 |
離散材料を標本とした統計データの信頼性を保証するための測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法を提供する。 |
| 効果 |
離散材料を標本とした統計データの信頼性を保証するための測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法を提供することができる。 |
技術概要
 |
測定必要個数決定装置は、標本中のクラス毎の存在個数の割合として与えられる比率Ｐ＾↓ｉから、下記式（１）に基づくクラス単位測定必要個数Ｎ↓ｉを取得可能とされるクラス単位測定必要個数取得手段と、前記クラス単位測定必要個数Ｎ↓ｉの最大値等とされる前記暫定測定必要個数Ｎ↓ｒを取得可能とされる暫定測定必要個数取得手段と、前記標本の数が前記暫定測定必要個数Ｎ↓ｒ以上となったときの前記暫定測定必要個数Ｎ↓ｒを真の測定必要個数として決定可能とされる測定必要個数決定手段と、を有することを特徴とする。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)