適用製品
測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法
目的
離散材料を標本とした統計データの信頼性を保証するための測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法を提供する。
効果
離散材料を標本とした統計データの信頼性を保証するための測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法を提供することができる。
技術概要
測定必要個数決定装置は、標本中のクラス毎の存在個数の割合として与えられる比率Ｐ＾↓ｉから、下記式（１）に基づくクラス単位測定必要個数Ｎ↓ｉを取得可能とされるクラス単位測定必要個数取得手段と、前記クラス単位測定必要個数Ｎ↓ｉの最大値等とされる前記暫定測定必要個数Ｎ↓ｒを取得可能とされる暫定測定必要個数取得手段と、前記標本の数が前記暫定測定必要個数Ｎ↓ｒ以上となったときの前記暫定測定必要個数Ｎ↓ｒを真の測定必要個数として決定可能とされる測定必要個数決定手段と、を有することを特徴とする。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
その他の情報
