測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法

開放特許情報番号
L2018000436
開放特許情報登録日
2018/2/28
最新更新日
2020/8/28

基本情報

出願番号 特願2019-546534
出願日 2018/6/25
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 WO2019/069512
公開日 2019/4/11
発明の名称 測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法
目的 離散材料を標本とした統計データの信頼性を保証するための測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法を提供する。
効果 離散材料を標本とした統計データの信頼性を保証するための測定必要個数決定装置、測定必要個数決定プログラム及び測定必要個数決定方法、並びに、測定精度推定装置、測定精度推定プログラム及び測定精度推定方法を提供することができる。
技術概要
測定必要個数決定装置は、標本中のクラス毎の存在個数の割合として与えられる比率P^↓iから、下記式(1)に基づくクラス単位測定必要個数N↓iを取得可能とされるクラス単位測定必要個数取得手段と、前記クラス単位測定必要個数N↓iの最大値等とされる前記暫定測定必要個数N↓rを取得可能とされる暫定測定必要個数取得手段と、前記標本の数が前記暫定測定必要個数N↓r以上となったときの前記暫定測定必要個数N↓rを真の測定必要個数として決定可能とされる測定必要個数決定手段と、を有することを特徴とする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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