プロキシミティテスト方法、及びプロキシミティテスト装置

開放特許情報番号
L2018000371
開放特許情報登録日
2018/2/19
最新更新日
2018/2/19

基本情報

出願番号 特願2015-097850
出願日 2015/5/13
出願人 学校法人慶應義塾
公開番号 特開2016-213769
公開日 2016/12/15
発明の名称 プロキシミティテスト方法、及びプロキシミティテスト装置
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 端末同士の近接度を識別する技術
目的 周囲の伝搬環境の変化に強く、かつ識別精度の高いセキュアなプロキシミティテストの手法を提供することを課題とする。
効果 周囲の伝搬環境の変化に強く、かつ識別精度の高いセキュアなプロキシミティテストが実現する。
技術概要
プロキシミティテスト方法は、第1端末装置と第2端末装置から、それぞれ少なくとも受信信号電圧と残留磁気の磁界強度ベクトルを含む測定報告を取得し、前記受信信号電圧から、信号の固有ベクトルの経時変化を表わす第1評価関数と前記信号の固有値の経時変化を表わす第2評価関数を計算し、前記測定報告と前記計算結果に基づき、前記第1端末装置と前記端末装置の間の受信信号強度の相関、前記第1評価関数の相関、前記第2評価関数の相関、及び前記磁界強度ベクトルの相関のうちの少なくとも2つを用いて、前記第1端末装置と前記第2端末装置が所定範囲の同じ空間内に位置するか否かを決定する、ことを特徴とする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人慶應義塾

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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