偏波解析装置、及び偏波解析方法

開放特許情報番号
L2018000370
開放特許情報登録日
2018/2/19
最新更新日
2018/2/19

基本情報

出願番号 特願2015-124617
出願日 2015/6/22
出願人 学校法人慶應義塾
公開番号 特開2017-009418
公開日 2017/1/12
発明の名称 偏波解析装置、及び偏波解析方法
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 偏波解析測定
目的 計測可能な電磁波の周波数帯域を広げ、偏波の状態を簡単かつ高精度に検出する。
効果 広い周波数帯域で偏波の状態を簡単かつ高精度に検出することができる。
技術概要
z−カットの六方晶、z−カットの三方晶、または(111)面の閃亜鉛鉱型結晶を角速度ωで回転し、前記回転する結晶にプローブ光と楕円偏光した電磁波を同期して入射し、結晶を透過したプローブ光を検出して、S(τ)=f(Ω)[A'↓1(Ω)cos(θ(Ω)−3φ)+iB'↓1(Ω)sin(θ(Ω)−3φ)]exp(−iΩτ)に基づいて周波数解析することで前記電磁波の楕円率と旋光角を求める。ここで、Ωは前記電磁波の角周波数、A'↓1は電磁波の電場ベクトルの軌跡を表わす楕円の長軸方向の長さ、B'↓1は前記楕円の短軸方向の長さ、θは前記プローブ光の偏光方向に対する前記長軸方向の角度、φは前記プローブ光の偏光方向に対する前記非線形光学結晶のa軸の角度、τは前記プローブ光と前記電磁波の相対遅延、f(Ω)は前記非線形光学結晶の複素屈折率の関数である。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人慶應義塾

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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