分析装置及び分析システム
- 開放特許情報番号
- L2018000247
- 開放特許情報登録日
- 2018/2/7
- 最新更新日
- 2020/5/28
基本情報
| 出願番号 | 特願2015-117985 |
|---|---|
| 出願日 | 2015/6/11 |
| 出願人 | 国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 | |
| 公開日 | 2017/1/5 |
| 登録番号 | |
| 特許権者 | 国立大学法人 筑波大学 |
| 発明の名称 | 分析装置及び分析システム |
| 技術分野 | 情報・通信 |
| 機能 | 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 | 分析装置及び分析システム |
| 目的 | 試料の表面近傍の状態を非破壊かつ高感度に分析することができる分析装置及び分析システムを提供する。 |
| 効果 | 本発明の一態様に係る分析装置及び分析システムを用いることで、試料の表面近傍の状態を非破壊かつ高感度に分析することができる。 |
技術概要) |
被測定物を設置できる設置部を有するチャンバーと、
加速器で発生したイオンビームを前記設置部に向けて導く導管と、 前記設置部に設置された前記被測定物に前記イオンビームを照射することにより反跳した反跳粒子に磁場又は電場を印加し、前記反跳粒子のエネルギーに対応する方向に前記反跳粒子の進行方向を変化させる分析部と、 前記反跳粒子の軌跡と平行な平面に対して垂直な方向に延在し、前記反跳粒子をその進行方向毎に検出可能な検出部を有する位置敏感半導体検出器と、 前記位置敏感半導体検出器に接続され、前記位置敏感半導体検出器で生じた電荷をデジタル化して計測する計測器と、を備える分析装置。 |
| 実施実績 | 【無】 |
| 許諾実績 | 【無】 |
| 特許権譲渡 | 【否】 |
| 特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
| 登録者名称 | |
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その他の情報
| 関連特許 |
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