質量分析方法と質量分析装置

開放特許情報番号
L2018000179
開放特許情報登録日
2018/1/29
最新更新日
2020/8/28

基本情報

出願番号 特願2019-542040
出願日 2018/9/10
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 WO2019/054325
公開日 2019/3/21
発明の名称 質量分析方法と質量分析装置
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 化学分析手法の一種である質量分析法
目的 活性化された反応ガスを目的イオンまたは干渉イオンと反応させ、目的イオンを干渉イオンから分離して、目的イオンの正確な分析ができる質量分析方法と質量分析装置を提供する。
効果 質量分析法において、質量電荷比が干渉イオンと同程度の目的イオンを、干渉イオンから高精度で分離できる。
技術概要
目的イオンと干渉イオンが導入される反応セルと、
前記反応セルに接続されたオゾン発生部と、
前記反応セルで前記目的イオンがオゾンと反応して生じた目的イオン生成物が、質量電荷比に応じて、前記干渉イオンから分離される質量分離部と、
前記質量分離部で分離された前記目的イオン生成物の信号強度を計測する計測部と、
を有する質量分析装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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