出願番号 |
特願2015-047035 |
出願日 |
2015/3/10 |
出願人 |
国立大学法人埼玉大学 |
公開番号 |
特開2016-166806 |
公開日 |
2016/9/15 |
登録番号 |
特許第6482119号 |
特許権者 |
国立大学法人埼玉大学 |
発明の名称 |
三次元計測法 |
技術分野 |
情報・通信 |
機能 |
検査・検出 |
適用製品 |
被測定物の形状を三次元計測する三次元計測法 |
目的 |
撮影方式が積分型で、投影する格子パターンの位相シフト量が任意の一般化位相シフト法により、被測定物の形状を簡単に三次元計測する。 |
効果 |
本発明によれば、撮影方式が積分型で、投影する格子パターンの位相シフト量が任意の一般化位相シフト法により、変形格子像間の相対的な位相シフト量の値を簡単に算出して、被測定物の形状を簡単に三次元計測することが可能になる。 |
技術概要
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位相シフト解析装置7は撮影装置6から連続する3枚の変形格子像a,b,cを入力し、各変形格子像間の輝度値I0,I1,I2について平均二乗誤差を計算する。そして、輝度値の振動成分を表す項が0にされてsin関数で表された平均二乗誤差から、各変形格子像間の相対的な位相シフト量Δφpqの絶対値を逆三角関数であるarccosを使って求める。求めた各位相シフト量Δφpqの和で表した評価関数fn(κ)が巡回差分位相条件を満たす各位相シフト量Δφpqの符号およびその解κ0を求め、符号を含めた位相シフト量Δφpqの値を求める。位相シフト量Δφpqのこの値から輝度値の位相θの値を求めて、被測定物1の形状を三次元計測する。 |
実施実績 |
【無】 |
許諾実績 |
【無】 |
特許権譲渡 |
【否】
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特許権実施許諾 |
【可】
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