| 出願番号 |
特願2015-047035 |
| 出願日 |
2015/3/10 |
| 出願人 |
国立大学法人埼玉大学 |
| 公開番号 |
特開2016-166806 |
| 公開日 |
2016/9/15 |
| 発明の名称 |
三次元計測法 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
被測定物の形状を三次元計測する三次元計測法 |
| 目的 |
撮影方式が積分型で、投影する格子パターンの位相シフト量が任意の一般化位相シフト法により、被測定物の形状を簡単に三次元計測する。 |
| 効果 |
本発明によれば、撮影方式が積分型で、投影する格子パターンの位相シフト量が任意の一般化位相シフト法により、変形格子像間の相対的な位相シフト量の値を簡単に算出して、被測定物の形状を簡単に三次元計測することが可能になる。 |
技術概要
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位相シフト解析装置７は撮影装置６から連続する３枚の変形格子像ａ，ｂ，ｃを入力し、各変形格子像間の輝度値Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２について平均二乗誤差を計算する。そして、輝度値の振動成分を表す項が０にされてsin関数で表された平均二乗誤差から、各変形格子像間の相対的な位相シフト量Δφpqの絶対値を逆三角関数であるarccosを使って求める。求めた各位相シフト量Δφpqの和で表した評価関数ｆｎ（κ）が巡回差分位相条件を満たす各位相シフト量Δφpqの符号およびその解κ０を求め、符号を含めた位相シフト量Δφpqの値を求める。位相シフト量Δφpqのこの値から輝度値の位相θの値を求めて、被測定物１の形状を三次元計測する。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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