X線回折測定装置及びX線回折測定方法

開放特許情報番号
L2017002316
開放特許情報登録日
2017/12/14
最新更新日
2018/1/17

基本情報

出願番号 特願2017-508258
出願日 2016/3/15
出願人 国立大学法人京都大学
公開番号 WO2016/152654
公開日 2016/9/29
発明の名称 X線回折測定装置及びX線回折測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 X線回折測定装置及びX線回折測定方法
目的 試料を所望の形状でX線回折測定を行うことができ、且つその測定精度を向上させることができるX線回折測定装置及びX線回折測定方法を提供する。
効果 本発明によれば、試料を所望の形状でX線回折測定を行うことができ、且つその測定精度を向上させることができる。
技術概要
所定の第1回転軸回りに回転することで、試料を所定平面内で回転させる試料回転部と、
前記試料回転部により回転する前記試料に対してX線を照射するX線源と、
X線の光軸に対して直交した第2回転軸を中心とする円弧軌跡上を移動することで、前記試料を透過して回折した回折X線を検出する回折X線検出部と、
前記光軸と前記第2回転軸とを含む仮想平面において、前記試料回転部により回転する前記試料を中心として、前記第1回転軸を前記光軸に対して所定の鋭角度で相対的に傾斜させる軸傾斜機構と、
を備えることを特徴とするX線回折測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT