目的物質検出チップ、目的物質検出装置及び目的物質検出方法

開放特許情報番号
L2017002233
開放特許情報登録日
2017/12/12
最新更新日
2019/5/31

基本情報

出願番号 特願2017-157683
出願日 2017/8/17
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2019-035683
公開日 2019/3/7
発明の名称 目的物質検出チップ、目的物質検出装置及び目的物質検出方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 目的物質検出チップ、目的物質検出装置及び目的物質検出方法
目的 電極上のみならず、その周辺を検出領域とし、かつ、目的物質を高感度に検出可能な目的物質検出チップ、目的物質検出装置及び目的物質検出方法を提供する。
効果 電極上のみならず、その周辺を検出領域とし、かつ、目的物質を高感度に検出可能な目的物質検出チップ、目的物質検出装置及び目的物質検出方法を提供することができる。
技術概要
光透過性基板と、
前記光透過性基板上に金属材料、半導体材料及び第1の誘電体材料のいずれかで形成される第1の層と第2の誘電体材料で形成される第2の層とがこの順で積層されて構成され、導波モードが励起可能とされる導波モード励起層と、
前記導波モード励起層上に前記導波モード励起層の一部が露出される状態で積層されて構成され、SPRが励起可能とされるSPR励起層とが配され、
前記光透過性基板側の面を裏面として前記裏面側から全反射条件で照射される光により、露出される前記導波モード励起層及び前記SPR励起層の表面上に近接場光が形成可能とされることを特徴とする目的物質検出チップ。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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