微結晶構造解析方法及び微結晶構造解析装置

開放特許情報番号
L2017002120
開放特許情報登録日
2017/11/30
最新更新日
2017/11/30

基本情報

出願番号 特願2013-265882
出願日 2013/12/24
出願人 国立大学法人京都大学
公開番号 特開2015-121486
公開日 2015/7/2
発明の名称 微結晶構造解析方法及び微結晶構造解析装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 微結晶構造解析装置
目的 簡素な構成で微結晶の構造解析を行うことができる微結晶構造解析方法及び微結晶構造解析装置を提供する。
効果 簡素な構成で微結晶の構造解析を行うことができる。
技術概要
微結晶構造解析方法は、微結晶を懸濁させた試料容器を磁場発生部に対して一定速度で回転させた状態で、試料容器に照射されたX線の第1回折像を検出する第1検出工程ST1と、試料容器を磁場発生部に対して回転停止させた状態で、試料容器に照射されたX線の第2回折像を検出する第2検出工程ST2と、検出された第1回折像及び第2回折像に基づいて、微結晶の結晶系、格子定数、面指数及び空間群をそれぞれ決定する第1決定工程ST3、ST4、ST5と、第1回折像及び第2回折像に基づいて、決定された各面指数における回折スポットの回折強度を決定する第2決定工程ST6と、決定された回折強度に基づいて解析処理を行う解析工程ST7とを含む微結晶構造解析方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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