製造不良原因の探索支援方法及び情報処理装置

開放特許情報番号
L2017002075
開放特許情報登録日
2017/11/27
最新更新日
2018/12/26

基本情報

出願番号 特願2017-061991
出願日 2017/3/27
出願人 国立大学法人鳥取大学
公開番号 特開2018-163622
公開日 2018/10/18
発明の名称 製造不良原因の探索支援方法及び情報処理装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 確率推論を用いて、製造不良の原因探索を支援する技術
目的 製造不良の原因を高精度に推定し得る技術を提供する。
効果 製造不良の原因を高精度に推定し得る製造不良原因の探索支援技術を提供する。本実施形態によれば、原因探索に要する時間も短縮できることが確認された。
技術概要
解析対象不良に関して製造現場から採取可能な実測データであって、複数種のデータ群の集合を含む実測データを取得する工程と、
前記製造現場の製造工程の一部となる、前記解析対象不良に関連する工程範囲を選択する工程と、
前記製造工程を区分けし、各工程で動作する装置及び各工程の処理パラメータを各工程に関連付けて格納する製造工程データベースの中から、前記選択された工程範囲に関連付けられている装置又は処理パラメータを特定する工程と、
前記取得された実測データの中から、前記特定された装置又は処理パラメータに対応する一部の実測データを解析データとして抽出する工程と、
前記解析データを用いて、確率推論モデルを構築する工程と、
前記構築された確率推論モデルを用いて確率推論を実行する工程と、
を含む製造不良原因の探索支援方法。
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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