製造不良原因の探索支援方法及び情報処理装置

開放特許情報番号
L2017002075
開放特許情報登録日
2017/11/27
最新更新日
2017/11/27

基本情報

出願番号 特願2017-061991
出願日  
出願人 国立大学法人鳥取大学
発明の名称 製造不良原因の探索支援方法及び情報処理装置
技術分野 その他
機能 その他
適用製品 注:本件は未公開のため、公開後に提示します。内容については下記の問い合わせ先にご連絡頂ければご紹介いたします。
目的 注:本件は未公開のため、公開後に提示します。内容については下記の問い合わせ先にご連絡頂ければご紹介いたします。
効果 注:本件は未公開のため、公開後に提示します。内容については下記の問い合わせ先にご連絡頂ければご紹介いたします。
技術概要
 
注:本件は未公開のため、公開後に提示します。内容については下記の問い合わせ先にご連絡頂ければご紹介いたします。
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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