変位測定方法及び変位測定装置
- 開放特許情報番号
- L2017001805
- 開放特許情報登録日
- 2017/10/27
- 最新更新日
- 2017/10/27
基本情報
出願番号 | 特願2012-243102 |
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出願日 | 2012/11/2 |
出願人 | 株式会社ユピテル |
公開番号 | |
公開日 | 2014/5/19 |
登録番号 | |
特許権者 | 株式会社ユピテル |
発明の名称 | 変位測定方法及び変位測定装置 |
技術分野 | 食品・バイオ、化学・薬品 |
機能 | 機械・部品の製造 |
適用製品 | 変位測定方法及び変位測定装置 |
目的 | 対象物の微小な変位及びその時間変化を、非接触かつ高い精度で測定する方法、
その方法を適用して対象物の微小な変位及びその時間変化を測定するための装置、 その方法を適用して対象物が生体である生体の変位及びその時間変化を測定するための装置、及び、 その装置で測定されうる生体の変位及びその時間変化から誘導される生理学的パラメータを含む生理学的指標の算出方法を提供する。 |
効果 | 対象物の微小な変位及びその時間変化を、非接触かつ高い精度で測定する方法、
その方法を適用して対象物の微小な変位及びその時間変化を測定するための装置、 その方法を適用して対象物が生体である生体の変位及びその時間変化を測定するための装置、及び、 その装置で測定されうる生体の変位及びその時間変化から誘導される生理学的パラメータを含む生理学的指標の算出方法を提供することができる。 |
技術概要![]() |
時刻Tに、
第一周波数の第一電磁波を任意の位置に照射し、 第一周波数とは異なる第二周波数の第二電磁波を前記位置に照射し、 前記第一電磁波及び前記第二電磁波の照射の結果生じた散乱電磁波を受信し、 前記散乱電磁波と、前記第一電磁波とを乗算することにより得られる第一差分出力波と、 前記散乱電磁波と、前記第二電磁波とを乗算することにより得られる第二差分出力波の位相差φ(T)を求め、 前記散乱電磁波が、時刻Tにおける前記位置における前記第一電磁波及び前記第二電磁波の散乱の結果であるとみなして、 時刻T=t↓0において求めた前記位相差φ(t↓0)と、 時刻T=tにおいて求めた前記位相差φ(t)の差Δφ(t)に基づき、 時刻T=t↓0に対する時刻T=tにおける前記位置の変位Δd(t)を定義して、 前記変位Δd(t)を算出する工程を有する変位測定方法。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【可】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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