劣化判定方法及び劣化判定装置

開放特許情報番号
L2017001275
開放特許情報登録日
2017/8/25
最新更新日
2017/8/25

基本情報

出願番号 特願2008-135342
出願日 2008/5/23
出願人 大阪瓦斯株式会社
公開番号 特開2009-281918
公開日 2009/12/3
登録番号 特許第5054614号
特許権者 大阪瓦斯株式会社
発明の名称 劣化判定方法及び劣化判定装置
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 劣化判定方法及び劣化判定装置
目的 高分子材料膜の劣化程度の判定において、当該高分子材料膜が膜式流量計などの機器に設置されたままの状態で、かつ、比較的簡便な装置構成で当該高分子材料膜の劣化程度の判定が可能。
効果 高分子材料膜の厚さ方向の電気的特性を計測するので、機器に設置されたままの状態であっても劣化程度の判定が容易にできるとともに、比較的簡便な装置構成とすることができる。
劣化程度が比較的進んでおらず再使用可能であるとするものであれば、当該判定対象の高分子材料膜を継続して再使用することができる。
技術概要
劣化程度の判定対象である高分子材料膜の温度を調整する温度調整工程と、前記温度調整工程において温度調整された前記高分子材料膜の電気的特性を計測する計測工程と、当該計測工程において計測された前記電気的特性からガラス転移温度を導出して、当該ガラス転移温度に基づいて前記高分子材料膜の劣化程度を判定する判定工程とを実行する高分子材料膜の劣化判定方法であって、判定対象である高分子材料膜が、膜の中心側部位に設けられた膜板により当該膜の中心側部位が位置保持されるとともに、前記膜の周縁部位が計量室を形成するケーシングと整膜板とに挟持固定され、前記計量室へのガスの給排により膨張収縮を繰り返す往復運動をする膜式流量計の膜部に使用される膜であり、前記計測工程において、前記膜板による前記膜の位置保持を維持しつつ、前記ケーシングと整膜板とによる前記膜の挟持固定を解除した状態で、前記膜の周縁部位において一方の面と他方の面に電極部材を接触させ、当該膜の厚さ方向の電気的特性を計測し、計測された前記厚さ方向の電気的特性から前記判定工程において前記高分子材料膜の劣化程度を判定する膜式流量計の膜部に使用される高分子材料膜の劣化判定方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 大阪ガス株式会社

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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