光線指向制御部の光線特性測定装置および光線指向制御部の光線特性測定方法

開放特許情報番号
L2017001016
開放特許情報登録日
2017/7/5
最新更新日
2017/7/5

基本情報

出願番号 特願2013-090311
出願日 2013/4/23
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2014-215077
公開日 2014/11/17
登録番号 特許第6097133号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 光線指向制御部の光線特性測定装置および光線指向制御部の光線特性測定方法
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 光線特性測定装置および光線指向制御部の光線特性測定方法
目的 実際に発光素子を作製することなく、発光素子の光線指向制御部から出射される光線を模擬的に作製しこの光線の特性を測定することが可能な光線指向制御部の光線特性測定装置および光線指向制御部の光線特性測定方法を提供する。
効果 評価用試料の光線指向制御部から出射された光線の特性を発光素子の光線指向制御部から出射される光線の特性として測定することができる。
発光素子の光線指向制御部から出射される光線の特性を測定することができる。
光線指向制御部として有効な構造を迅速かつ簡易に見つけ出すことが可能となる。
技術概要
評価する発光素子に形成された柱状の光線指向制御部と同じ光線指向制御部を透明誘電体により形成される透明基板上に形成した評価用試料の光線の特性を、前記発光素子の光線の特性として測定する光線指向制御部の光線特性測定装置であって、前記評価用試料と、前記評価用試料の底面側に設置する光源と、前記光源からの光により前記評価用試料の光線指向制御部から出射される光線を検出しこの光線の特性を測定する光検出装置と、を備え、前記評価用試料の前記透明基板は、前記光源から照射された光を入射する入射面から前記光線指向制御部の底面までの距離が、前記発光素子の前記発光部の上面から前記光線指向制御部の底面までの距離と等しいことを特徴とする光線指向制御部の光線特性測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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