測定システム、測定装置

開放特許情報番号
L2017000715
開放特許情報登録日
2017/5/11
最新更新日
2017/5/11

基本情報

出願番号 特願2015-160155
出願日 2015/8/14
出願人 国立研究開発法人情報通信研究機構
公開番号 特開2017-038333
公開日 2017/2/16
発明の名称 測定システム、測定装置
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 測定システム、測定装置
目的 既存システムの電波を利用できない場合や使用周波数帯が広い場合にも適用することのできる遅延プロファイル特性の測定装置、測定システムを提供する。
効果 遅延プロファイル特性を測定する測定装置、測定システムを提供することができる。
ダイナミックレンジを確保しつつ広帯域の遅延プロファイル測定が可能になる。
シングルキャリアでチャネル帯域内を掃引する場合と比較して短時間で測定を完了することが可能となる。
チャネル単位の送信信号の周波数を複数チャネルにわたって掃引することにより、周波数の切れ目がない測定が可能となる。
技術概要
実施形態の測定システムは、複数のチャネルが配置された対象周波数帯の遅延プロファイルを測定する測定システムであって、前記チャネルの帯域幅の範囲で複数のキャリア信号を持つ送信信号を生成する変調部、および前記送信信号の周波数を前記チャネルの帯域幅の単位で前記複数のチャネルの配置に従い前記対象周波数帯を所定のタイミングで掃引するチャネル制御部を備えた送信器と、前記送信信号を前記チャネルごとに復調して複数のチャネル推定を算出する復調部、および前記複数のチャネル推定を前記複数のチャネルの配置に対応させて相互に接続し前記対象周波数帯のチャネル推定を算出する信号処理部を備えた測定器とを具備している。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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