粒径測定システムおよび粒径測定方法

開放特許情報番号

L2017000551

開放特許情報登録日

2017/4/14

最新更新日

2019/12/25

基本情報

出願番号	特願2015-085131
出願日	2015/4/17
出願人	学校法人　東洋大学
公開番号	特開2016-205891
公開日	2016/12/8
登録番号	特許第6618269号
特許権者	学校法人　東洋大学
発明の名称	粒径測定システムおよび粒径測定方法
技術分野	情報・通信
機能	検査・検出
適用製品	粒径測定システムおよび粒径測定方法
目的	簡易且つ低コストで微粒子の粒径を測定することのできる粒径測定システムおよび粒径測定方法を提供する。
効果	本発明によれば、簡易且つ低コストで微粒子の粒径を測定することのできる粒径測定システムおよび粒径測定方法を提供することができる。
技術概要	画像処理手段５は、微粒子が無い場合と、有る場合の２以上の画像データの相関状態を解析する画像相関解析手段５１と、２以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出手段５２と、閾値に基いて画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出手段５３と、抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出手段５４と、抽出された回折円の半径を検出する円半径検出手段５５と、抽出された半径と、撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角θを算出する回折角算出手段５６とを有し、粒径算出手段６は、回折角算出手段で算出された回折角に基いて微粒子の半径および粒径を算出する。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【可】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	学校法人東洋大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】