検査装置および検査方法

開放特許情報番号
L2017000488
開放特許情報登録日
2017/4/3
最新更新日
2018/8/31

基本情報

出願番号 特願2016-234186
出願日 2016/12/1
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2018-091685
公開日 2018/6/14
発明の名称 検査装置および検査方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 検査装置および検査方法
目的 被測定対象物の品質の検査が簡便で容易な検査装置および検査方法を提供することである。
効果 一つの磁歪振動子を有する検査プローブで、被測定対象物の加振と被測定対象物の振動の検出を行うことが可能になり、被測定対象物の品質の検査が簡便で容易になる。
技術概要
被測定対象物に押接して検査信号に応じて被測定対象物を加振するとともに該被測定対象物からの振動を受信信号として出力する磁歪振動子を有する検査プローブと、
前記検査プローブに結合され、前記受信信号から前記検査信号の信号成分を低減した信号を出力信号として出力する信号処理部と、
を備える装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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