ナノ粒子評価方法およびナノ粒子観察装置

開放特許情報番号
L2017000267
開放特許情報登録日
2017/2/8
最新更新日
2020/3/18

基本情報

出願番号 特願2018-544975
出願日 2017/10/4
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 WO2018/070324
公開日 2018/4/19
登録番号 特許第6659062号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 ナノ粒子評価方法およびナノ粒子観察装置
技術分野 情報・通信、電気・電子、機械・加工
機能 機械・部品の製造
適用製品 ナノ粒子の分散状態を評価する方法と、ナノ粒子の形状等を観察する装置
目的 TEMやAFM等でナノ粒子を定量的に精密観察すべき試料の部分を、光学顕微鏡等を用いた簡便な手法によって選定する。
効果 光学顕微鏡等を用いた簡便な手法によって、TEMやAFM等でナノ粒子を定量的に精密観察すべき試料の部分が選定できる。
技術概要
分散しているナノ粒子を含む試料の前記ナノ粒子に、三原色を含む光を照射する照射工程と、
前記ナノ粒子による前記光の散乱光の波長と強度を測定する測定工程と、
前記測定工程で測定された散乱光の波長と強度から、三原色の光の強度の総和である全散乱光強度と、青色の光の強度である青色光強度と、前記全散乱光強度に対する前記青色光強度の割合である青色光比率とを、前記試料の所定の領域内で算出する算出工程と、
前記青色光比率を指標として、前記ナノ粒子の分散状態を前記領域内の所定の部分ごとに評価する評価工程と、
を有するナノ粒子評価方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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