| 出願番号 |
特願2014-146027 |
| 出願日 |
2014/7/16 |
| 出願人 |
国立大学法人 大分大学 |
| 公開番号 |
特開2015-038473 |
| 公開日 |
2015/2/26 |
| 登録番号 |
特許第6391336号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 大分大学 |
| 発明の名称 |
スキャンＢＩＳＴのＬＦＳＲシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体 |
| 技術分野 |
電気・電子、情報・通信 |
| 機能 |
制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
記憶媒体 |
| 目的 |
スキャンＢＩＳＴの故障検出率向上のための新たなＬＦＳＲシード生成法を提供する。 |
| 効果 |
検査回路に対して、テストモード時のスキャンＢＩＳＴ回路と同じ動作を模擬できる。そして直接シードを求めることが出来るため、ドントケア付きテスト生成をする必要がなく、従来手法と比べてパターン数を抑えることができる。また、シードを生成する過程で生成したシードがどの程度の故障を検出できるか確認するため、改めて故障シミュレーションを行わなくて済む。そのためテスト時間を減らせる利点もある。 |
技術概要
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この課題を解決する為に、スキャンＢＩＳＴのシード生成モデルを形成し、形成したシードモデルに対して対象故障のテスト生成を行ってＬＦＳＲのシードを生成する、各手順を備え、シード生成モデルは、前記スキャンＢＩＳＴのＬＦＳＲを被検査回路のスキャンＦＦにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したＸＯＲネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分とを備え、前記組合せ回路部分に前記ＸＯＲネットワーク出力が接続された構成を有する、スキャンＢＩＳＴのＬＦＳＲシード生成方法を提供する。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【可】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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