スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体

開放特許情報番号
L2016001914
開放特許情報登録日
2016/12/14
最新更新日
2016/12/14

基本情報

出願番号 特願2014-146027
出願日 2014/7/16
出願人 国立大学法人 大分大学
公開番号 特開2015-038473
公開日 2015/2/26
発明の名称 スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 記憶媒体
目的 スキャンBISTの故障検出率向上のための新たなLFSRシード生成法を提供する。
効果 検査回路に対して、テストモード時のスキャンBIST回路と同じ動作を模擬できる。そして直接シードを求めることが出来るため、ドントケア付きテスト生成をする必要がなく、従来手法と比べてパターン数を抑えることができる。また、シードを生成する過程で生成したシードがどの程度の故障を検出できるか確認するため、改めて故障シミュレーションを行わなくて済む。そのためテスト時間を減らせる利点もある。
技術概要
この課題を解決する為に、スキャンBISTのシード生成モデルを形成し、形成したシードモデルに対して対象故障のテスト生成を行ってLFSRのシードを生成する、各手順を備え、シード生成モデルは、前記スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したXORネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分とを備え、前記組合せ回路部分に前記XORネットワーク出力が接続された構成を有する、スキャンBISTのLFSRシード生成方法を提供する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2017 INPIT