目的
スキャンＢＩＳＴの故障検出率向上のための新たなＬＦＳＲシード生成法を提供する。
効果
検査回路に対して、テストモード時のスキャンＢＩＳＴ回路と同じ動作を模擬できる。そして直接シードを求めることが出来るため、ドントケア付きテスト生成をする必要がなく、従来手法と比べてパターン数を抑えることができる。また、シードを生成する過程で生成したシードがどの程度の故障を検出できるか確認するため、改めて故障シミュレーションを行わなくて済む。そのためテスト時間を減らせる利点もある。
技術概要
この課題を解決する為に、スキャンＢＩＳＴのシード生成モデルを形成し、形成したシードモデルに対して対象故障のテスト生成を行ってＬＦＳＲのシードを生成する、各手順を備え、シード生成モデルは、前記スキャンＢＩＳＴのＬＦＳＲを被検査回路のスキャンＦＦにおけるスキャンパス長分時間展開して構成したＸＯＲネットワークと、前記被検査回路の組合せ回路部分とを備え、前記組合せ回路部分に前記ＸＯＲネットワーク出力が接続された構成を有する、スキャンＢＩＳＴのＬＦＳＲシード生成方法を提供する。
基本情報
開放特許情報
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登録者情報
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