光学的測定装置及び光学的測定方法

開放特許情報番号
L2016001460
開放特許情報登録日
2016/10/5
最新更新日
2018/3/29

基本情報

出願番号 特願2016-126905
出願日 2016/6/27
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2018-004271
公開日 2018/1/11
発明の名称 光学的測定装置及び光学的測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 光学的測定装置及び光学的測定方法
目的 調査対象の試料の、磁気光学特性、非相反光学特性、非線形光学特性のいずれか1以上の測定を、迅速に、かつ高感度で高精度に実現できる光学的測定装置及び光学的測定方法を提供する。
効果 本発明の測定装置は、光スイッチを備える構成としたことにより、試料の中を光が互いに反対方向に進む時の光特性の相違を、迅速に、かつ高精度及び高感度で測定できる。即ち、光の伝搬する方向は、組み立てられた光回路のうちのいずれの素子や装置も変えることなく、例えば2×2光スイッチで切り替えられるので、反対方向に伝搬する2方向の光の特性のわずかな違いを高精度で測定できる。
技術概要
磁気光学特性、非相反光学特性、非線形光学特性のいずれか1以上を測定する光学的測定方法又は装置において、光源からの光を入力して光を試料へ出力し、試料からの光を入力して検出器へ出力する光スイッチを備え、光スイッチで、試料との光の入出力の接続状態を2つの状態間で切り替えることにより、試料へ入力する光の向き及び偏光状態のいずれか1以上を切り替える。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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