光学的測定手法及び測定装置

開放特許情報番号
L2016001454
開放特許情報登録日
2016/10/5
最新更新日
2018/2/27

基本情報

出願番号 特願2016-116279
出願日 2016/6/10
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2017-219512
公開日 2017/12/14
発明の名称 光学的測定方法及び測定装置
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 光学的測定方法及び測定装置
目的 近接場を用いて標的物質を光学的に測定する方法及び装置において、検出板の表面に非特異的に吸着してしまう標識物質や磁性粒子によるノイズ、前記表面の汚れやキズによるノイズ、夾雑物の前記表面への非特異吸着によるノイズの影響を排除し、より高感度かつ高速に標的物質の検出が可能となる光学的測定方法及び装置を提供する。
効果 本発明によれば、検出板の表面に非特異的に吸着してしまう標識物質や磁性粒子によるノイズ、前記表面の汚れやキズによるノイズ、夾雑物の前記表面への非特異吸着によるノイズ等と、標的物質を含む結合体による光信号とを明確に区別することができるようになり、検出感度が格段に向上する。また、第1の磁場印加による外力により、前記結合体を移動させることができるので、検出時間の短時間化が図れる。
技術概要
近接場の形成された検出板の表面上の標的物質を含む結合体を、前記近接場を発生させる照射光の反射光信号を用いて検出する標的物質の光学的測定方法であって、
前記結合体は少なくとも前記標的物質と磁性粒子の結合によって形成され、前記結合体を前記表面に平行な方向又は前記表面から遠ざける方向に移動させる第1の磁場の印加によって生じる前記反射光信号の変化を計測して、前記標的物質を検出することを特徴とする、光学的測定方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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