| 出願番号 |
特願2012-537651 |
| 出願日 |
2011/9/28 |
| 出願人 |
国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 公開番号 |
WO2012/046602 |
| 公開日 |
2012/4/12 |
| 登録番号 |
特許第5845187号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 発明の名称 |
故障検出システム、取出装置、故障検出方法、プログラム及び記録媒体 |
| 技術分野 |
電気・電子、情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出 |
| 適用製品 |
テスト入力パターンが入力された論理回路から出力された複数の出力論理値に基づいて当該論理回路の故障を検出する故障検出システム等 |
| 目的 |
記憶されるべきテスト入力パターンのテストデータ量を削減しつつ、故障検出率を向上させる故障検出システム等を提供すること。 |
| 効果 |
取出手段又は取出装置により、１つの初期テスト入力パターンから複数のテスト出力パターンを得ることが可能となる。
キャプチャ数を増やすことで、初期テスト入力パターン数を減らして記憶されるべきテスト入力パターンのテストデータ量を削減しつつ、故障検出率を向上させることが可能となる。
従来の方法では他のテスト入力パターンでしか検出できなかった故障も、同じ初期テスト入力パターンで検出することが可能となる。したがって、記憶容量の必要量を削減することが可能となる。 |
技術概要
 |
テスト入力パターンが入力された論理回路から出力された複数の出力論理値に基づいて当該論理回路の故障を検出する故障検出システムであって、前記複数の出力論理値は、前記論理回路に対して新たなテスト入力パターンとして入力されるものであり、前記複数の出力論理値の一部又は全部を取り出す第１取出手段と、前記第１取出手段が取り出した出力論理値と、前記論理回路に故障がない場合に予測される出力論理値又は特定の故障がある場合に予測される出力論理値とを比較する比較手段と、前記比較手段による比較結果に基づいて前記論理回路の故障の有無を判定する故障判定手段とを備える故障検出システムである。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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