計測装置、試験方法、物性評価プログラム、及び当該物性評価プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

開放特許情報番号
L2016000645
開放特許情報登録日
2016/4/25
最新更新日
2018/8/22

基本情報

出願番号 特願2017-522226
出願日 2016/6/1
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 WO2016/194985
公開日 2016/12/8
発明の名称 インデンテーション・クリープ試験を行うための計測装置、試験方法、物性評価プログラム、及び当該物性評価プログラムを記録した記録媒体
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、機械・部品の製造
適用製品 計測装置、試験方法、物性評価プログラム、記録媒体
目的 クリープ物性値であるクリープ指数nとクリープ定数kとを同時に簡便に、かつ、短時間に評価する技術を提供すること。
効果 本発明の計測装置、試験方法、物性評価プログラムにおいて用いる解析方法は、インデンテーション・クリープ試験途中の一定荷重値P0と接触面積Aの直接計測する値に基づくものであるので、試験中に発生する塑性の影響を取り除いた粘弾性のみの応力と歪み速度との関係を容易に導き出すことが可能であり、クリープ物性値であるクリープ指数nとクリープ定数kとを同時に簡便に、かつ、短時間に評価することが可能となる。
技術概要
インデンテーション・クリープ試験機と、計測制御装置と、情報処理装置とを有し、試料のインデンテーション・クリープ試験を行うための計測装置であって、
前記計測制御装置は、
荷重を計測する荷重計測装置と、
前記試料の表面に透明圧子の先端部を一定荷重値の荷重で押し込む一定荷重圧入装置と、
前記一定荷重圧入装置で前記試料に荷重を加えた箇所の接触面積部分を含む画像を光学的に撮像する撮像装置とを有し、
前記情報処理装置は、
前記撮像装置が撮像した接触面積部分を含む画像から接触面積を解析する画像解析部と、
前記画像解析部が解析した接触面積から、解析的に求められる塑性接触面積を減算し、粘弾性接触面積を演算する粘弾性接触面積演算部と、前記粘弾性接触面積演算部が演算した粘弾性接触面積と前記一定荷重値とから接触応力を演算する応力演算部と、前記粘弾性接触面積に基づいて接触歪み速度を演算する歪み速度演算部とを含み、前記接触応力の対数値と、前記接触歪み速度の対数値とのプロットに対して直線回帰演算し、クリープ指数nとクリープ定数kを決定する物性値演算部を有することを特徴とする計測装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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