粒径測定装置および粒径測定方法

開放特許情報番号
L2016000552
開放特許情報登録日
2016/4/15
最新更新日
2017/3/30

基本情報

出願番号 特願2014-138358
出願日 2014/7/4
出願人 学校法人 東洋大学
公開番号 特開2015-045633
公開日 2015/3/12
発明の名称 粒径測定装置および粒径測定方法
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出
適用製品 粒径測定装置および粒径測定方法
目的 簡易且つ低コストで微粒子の粒径を測定することのできる粒径測定装置および粒径測定方法を提供する。
効果 簡易且つ低コストで微粒子の粒径を測定することのできる粒径測定装置および粒径測定方法を提供することができる。
技術概要
被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定装置であって、
コヒーレント光を出射する光源と、
微粒子を自然導入する前の前記コヒーレント光および自然導入された微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記回折・散乱光パターンのピークを判定して前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備えることを特徴とする粒径測定装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人東洋大学

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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