| 出願番号 |
特願2013-553292 |
| 出願日 |
2013/1/9 |
| 出願人 |
国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 公開番号 |
WO2013/105564 |
| 公開日 |
2013/7/18 |
| 登録番号 |
特許第5988443号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 発明の名称 |
テストパターン生産装置、故障検出システム、テストパターン生産方法、プログラム及び記録媒体 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
テストパターン生産装置、故障検出システム、テストパターン生産方法、プログラム及び記録媒体 |
| 目的 |
オリジナルのテストパターンの特性維持を図りつつ新たなテストパターンを生産することを可能とする、テストパターン生産装置等を提供する。 |
| 効果 |
故障検出率等の初期テストパターンの特性を可能な限り維持しつつ、新たなテストパターンを生産することが可能となる。
トグル率を減少させてシフトパワーを削減し、又は、トグル率を増大させて故障検出率を向上させる。
故障検出率等の初期テストパターンの特性維持とシフトパワー削減の調整を図ることが可能となる。
少ない遷移数のみを生じさせるテスト入力パターンを得られ、、キャプチャ時の消費電力やノイズを低減して遅延故障を精度よく検出する。 |
技術概要
 |
スキャンテストのテスト対象回路に入力されるテストパターンを生産するテストパターン生産装置であって、与えられた第１ビット、第２ビット及び第３ビットの論理値を参照して、第２ビットの論理値を維持又は反転することにより、新たな論理値を生成する論理値生成手段を備え、第１ビットの論理値は、与えられたテストパターンである初期テストパターンが有するものであるか、又は、初期テストパターンに基づいてテストパターン生産装置が生産した新たなテストパターンが有するものであり、第２ビットの論理値は、初期テストパターンが有するものであり、第３ビットの論理値は、初期テストパターンが有するものであるか、又は、新たなテストパターンが有する、テストパターン生産装置。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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