| 出願番号 |
特願2010-144921 |
| 出願日 |
2010/6/25 |
| 出願人 |
学校法人上智学院 |
| 公開番号 |
特開2011-078744 |
| 公開日 |
2011/4/21 |
| 登録番号 |
特許第5665040号 |
| 特許権者 |
学校法人上智学院 |
| 発明の名称 |
変位計測方法及び装置、並びに、超音波診断装置 |
| 技術分野 |
食品・バイオ、化学・薬品 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
変位計測方法及び変位計測装置 |
| 目的 |
ビームフォーミングに時間を要さずに、また、１つのエコーデータフレームを生成する間の組織変位による誤差を最小限にとどめることのできるビームフォーミング法に基づいて、実時間の高精度な変位ベクトル計測を実現する。 |
| 効果 |
物体、物質、材料、生体等の計測対象物内部の力学的な特性（変位、歪、速度、加速度等）を非破壊で定量的に計測する変位計測装置及び超音波診断装置において利用することが可能である。 |
技術概要
 |
変位計測方法は、計測対象物の略深さ方向と深さ方向に略直交する横方向とさらにこれらの方向と略直交するエレベーション方向とを３軸とする任意の３次元の直交座標系を取り、１つの偏向角度を有する超音波ステアリングビームを電子的及び／又は機械的に生成して、前記ステアリングビームで計測対象物を横軸方向に走査して超音波エコーデータフレームを生成するステップ（ａ）と、２以上の異なる時相において生成される前記超音波エコーデータフレームに所定のブロックマッチングを施して、変位ベクトル分布を算出するステップ（ｂ）とを具備する。 |
| 実施実績 |
【試作】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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