回転体の回転軸心の運動の軌跡を計測する方法及び計測システム

開放特許情報番号
L2015001935
開放特許情報登録日
2015/11/25
最新更新日
2015/11/25

基本情報

出願番号 特願2010-193113
出願日 2010/8/31
出願人 学校法人上智学院
公開番号 特開2012-052813
公開日 2012/3/15
登録番号 特許第4806093号
特許権者 学校法人上智学院
発明の名称 回転体の回転軸心の運動の軌跡を計測する方法及び計測システム
技術分野 情報・通信、機械・加工
機能 検査・検出
適用製品 回転体の回転軸心の運動の軌跡を計測する方法、及び、計測システム
目的 回転体の回転軸心の運動の軌跡を計測する方法を提供する。
効果 本発明の計測システムを利用することにより、例えばフライス盤のような切削工具における、高速で回転する複雑な形状の切削工具の回転軸心の運動の軌跡を高精度(例えば1μm以下の精度)に測定することができる。
技術概要
主軸に回転体を取り付けることと、前記回転体の前記回転軸心に垂直な垂直面内に、前記回転体の一部を挟んで対向する3組の発光部及び受光部の組を配置することと、回転体を、前記主軸と一体的に回転させつつエッジ光の光量を測定することと、エッジ光の光量に基づいて、回転体の断面形状と異なる仮想断面形状を求めることと、エッジ光の光量及び仮想断面形状に基づいて、回転体の回転軸心の運動の軌跡を求めることとを備える方法が提供される。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人上智学院

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2017 INPIT