イメージング方法及び変位計測方法及び装置、並びに、超音波画像診断装置

開放特許情報番号
L2015001932
開放特許情報登録日
2015/11/25
最新更新日
2016/1/25

基本情報

出願番号 特願2011-134573
出願日 2011/6/16
出願人 学校法人上智学院
公開番号 特開2013-000349
公開日 2013/1/7
登録番号 特許第5846411号
特許権者 学校法人上智学院
発明の名称 イメージング方法及び変位計測方法及び装置、並びに、超音波画像診断装置
技術分野 食品・バイオ、化学・薬品
機能 検査・検出、制御・ソフトウェア
適用製品 変位計測方法及び変位計測装置
目的 各関心点における実際に生じたビーム方向角度を超音波エコーデータから精度よく求め、その高精度なビーム方向における変位や速度、歪の計測を実現する。
効果 本発明の1つの観点によれば、一方向(ほとんどが、横方向か深さ方向)の高精度な変位計測を実現することができる。また、多方向ビームフォーミング法においては、使用する各ステアリングビームに本発明を適用することにより、精度の高いビーム方向の変位成分を高精度で計測し、それらを合成して任意方向の変位ベクトルの高精度な計測を実現することができる。
技術概要
変位計測方法は、超音波ステアリングビームで計測対象物を横軸方向に走査して超音波エコーデータフレームを生成するステップ(a)と、複数の異なる時相において生成される超音波エコーデータに対して、重心周波数が3次元周波数ベクトル(fx,fy,fz)を表す場合に、回転角φ=tan↑(-1)(fy/fx)、極角θ=cos↑(-1)[fz/(fx↑2+fy↑2+fz↑2)↑(1/2)]、周波数(fx↑2+fy↑2+fz↑2)↑(1/2)に基づいて、各関心点におけるビーム方向及び該ビーム方向における周波数を求めるステップ(b)と、各関心点の複数の異なる時相間の該ビーム方向における変位を算出するステップ(c)とを含む。
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人上智学院

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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