変位計測装置、並びに、超音波診断装置

開放特許情報番号
L2015001930
開放特許情報登録日
2015/11/25
最新更新日
2016/9/22

基本情報

出願番号 特願2014-243937
出願日 2010/6/25
出願人 学校法人上智学院
公開番号 特開2015-042344
公開日 2015/3/5
登録番号 特許第5979682号
特許権者 学校法人上智学院
発明の名称 変位計測装置、並びに、超音波診断装置
技術分野 食品・バイオ、化学・薬品
機能 機械・部品の製造
適用製品 変位計測装置
目的 ビームフォーミングに時間を要さずに1つのエコーデータフレームを生成する間の組織変位による誤差を最小限にとどめることのできるビームフォーミング法に基づいて、実時間の高精度な変位ベクトル計測を実現する。
効果 実時間の高精度な変位ベクトル又は横方向を主とした1方向変位の計測を実現する新しい変位計測装置及び超音波診断装置を提供することができる。開口面合成することもある。
技術概要
変位計測装置は、軸方向及び横方向の直交軸を含む直交座標系において超音波ビームで計測対象物を走査して得られる超音波エコーデータに基づいて、複数の時相の各々において超音波エコーデータフレームを生成する駆動・処理手段と、軸方向及び横方向のキャリア周波数及び位相、又は、単一八象限スペクトル、単一四象限スペクトル、及び、単一半帯域のスペクトルの内の1つに関して、複数の時相において生成された超音波エコーデータについて各位置において得られる連立方程式を解くことにより、軸方向及び横方向の各位置における変位ベクトル成分を算出するデータ処理部とを含む。
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人上智学院

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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