X線CT画像処理方法,X線CT画像処理プログラム及びX線CT画像装置

開放特許情報番号
L2015001745
開放特許情報登録日
2015/10/23
最新更新日
2017/6/26

基本情報

出願番号 特願2015-516922
出願日 2014/5/15
出願人 国立大学法人京都大学
公開番号 WO2014/185078
公開日 2014/11/20
発明の名称 X線CT画像処理方法,X線CT画像処理プログラム及びX線CT画像装置
技術分野 食品・バイオ
機能 検査・検出
適用製品 X線CT画像処理方法、X線CT画像処理プログラム及びX線CT画像装置
目的 投影したX線が多重に検出器に入射する観測に関する確率分布を設定し統計推定を行うことで、一本の光線で代表させることによるバイアスを低減可能なX線CT画像処理方法、X線CT画像処理プログラムおよび該プログラムが搭載されたX線CT画像処理装置を提供する。
効果 従来技術を用いた画像再構成と比べて、X線吸収係数を確率的に表現することで、より柔軟な表現を可能とし、より低いX線被曝量で従来と同程度の再構成画像が取得可能で、ビームハードニングアーティファクトを低減できる。
投影したX線が多重に検出器に入射する多重X線和の観測過程に関する確率分布を設定し統計推定を行うことで、一本の光線で代表させることによるバイアスを低減できる。
医療用のみならず産業用のX線CT装置に有用である。
技術概要
X線投影画像の観測に関する確率分布を設定し統計推定を行うX線CT画像処理方法であって、
X線投影画像と少なくともX線強度を含む計測条件を入力するステップと、前記X線投影画像の観測に関する確率分布と、物質に関するパラメータをもつX線吸収係数に関する事前分布のもとで、前記統計推定が前記X線吸収係数及び前記物質に関する事後分布の期待値によって前記X線吸収係数及び前記物質を推定するステップと、を備え、
前記X線投影画像の観測に関する確率分布は、投影したX線が多重に検出器に入射する多重X線和の観測過程として表現され、
前記多重X線和は、検出器におけるX線の検出面が空間的に1点ではなく所定の広がりを有し、X線の検出時間が一瞬ではなく所定の幅を有し、かつ、X線のスペクトル分布が線スペクトルではなく所定の広がりを有し、空間的な位置と方向および波長が異なる複数のX線が検出器に多重に入射し、それらの多重のX線の重み付き和が検出器で観測されることである、ことを特徴とするX線CT画像処理方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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