粒子径計測方法及びその装置

開放特許情報番号
L2015001655
開放特許情報登録日
2015/10/19
最新更新日
2018/8/24

基本情報

出願番号 特願2017-510133
出願日 2016/3/30
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号 WO2016/159131
公開日 2016/10/6
発明の名称 粒子径計測方法及びその装置
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造
適用製品 粒子径の計測方法及びその装置
目的 分散粒子の粒子径、特にナノサイズ粒子であっても簡便に計測できる粒子径計測装置及び粒子径計測方法を提供する。
効果 ライン中においてブラウン運動する粒子について、特にナノサイズ粒子であってもその粒子径を計測することができる。
技術概要
分散媒中をブラウン運動する粒子の粒子径を計測する粒子径計測装置であって、
前記分散媒を内部に収容し得る透明なカラムと、
前記カラム内の分散媒にレーザ光を照射するレーザ光照射部と、
前記カラム内の前記分散媒を撮像するカメラを含む撮像部と、
所定時間間隔Δtで少なくとも複数撮像された画像から対応粒子の変位を求める画像解析部と、
k↓Bをボルツマン定数、Tを絶対温度、ηを前記分散媒の粘性係数、dを前記粒子径とすると、前記変位の2乗平均値がk↓BT/3πηdに比例することから前記粒子径を算出する計算部と、を含むことを特徴とする粒子径計測装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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