| 出願番号 |
特願2013-049705 |
| 出願日 |
2013/3/12 |
| 出願人 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 |
特開2014-174124 |
| 公開日 |
2014/9/22 |
| 登録番号 |
特許第6183826号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 筑波大学 |
| 発明の名称 |
光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア |
| 適用製品 |
光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体 |
| 目的 |
粒子の形状・大きさ複素屈折率、粒子間の距離を高速に測定できる光学的測定方法及び光学的測定装置を提供する。また、この計測手段を用いて、回折限界を超える密度の光メモリを提供する。 |
| 効果 |
微光散乱体から直接、光吸収スペクトルを得ることができれば、前処理の簡略化とともに、少ない試料量でも、定量的な計測が可能となる。
光学的記録媒体としては、凸と凸あるいは凹と凹の間隔を記録データとする光学的記録媒体に適用可能である。
また、透過率を高くできるので、一枚のディスクに複数の記録層を設ける場合にも有効である。一方で、吸収スペクトルを情報とすれば、さらに、情報量を増やすことができる。
光学測定方法、測長装置に適用すると、高速で精度の高い検査が可能となる。 |
技術概要
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入射光の光軸から０．０５ラジアン（rad）以上はずれた散乱光の強度分布と、周期的な構造に関する光学的計算手法を周期の１／３よりも長径が短い孤立した光散乱体に適用して算出した散乱光の強度分布を比較することによって、光散乱体を計測することを特徴とする光学的測定方法。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)