X線強度変調法及びX線偏光状態分析法

開放特許情報番号
L2015000656
開放特許情報登録日
2015/3/31
最新更新日
2016/5/27

基本情報

出願番号 特願2014-167309
出願日 2014/8/20
出願人 国立大学法人信州大学
公開番号 特開2016-045000
公開日 2016/4/4
発明の名称 X線強度変調法及びX線偏光状態分析法
技術分野 情報・通信
機能 材料・素材の製造
適用製品 X線の強度を変調する技術とX線の偏光状態を分析する技術
目的 自由度の高い強度パターンの作り込みや切り替えが可能なX線の強度変調機構と、その強度変調機構を利用したX線偏光分析技術を提供する。
効果 自由度の高い強度パターンが作り込まれたX線ビームの生成を可能にし、またその強度パターンの迅速、任意な作り替え、変調を可能にする。
メカニカルな動作に起因する装置、部品の摩耗、劣化、誤動作等を低減する。一般に、直線偏光、円偏光ともに感度を有するため、これら双方の見積もりを、統一された装置、手法によって可能にする。
技術概要
X線強度変調方法であって、被変調X線を所望の磁化状態を有する磁性体に照射する入射工程と、前記磁性体の磁化の方向、磁化の大きさ、磁区構造から選択される1以上の状態を操作する操作工程と、前記磁性体によって回折された被変調X線を出力する出力工程と、を含むことを特徴とするX線強度変調方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

アピール内容 譲渡についての可・不可はその時の状況によります。

登録者情報

登録者名称 株式会社信州TLO

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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