面法線計測装置、面法線計測システム及び面法線計測プログラム

開放特許情報番号
L2015000450
開放特許情報登録日
2015/3/12
最新更新日
2015/3/12

基本情報

出願番号 特願2011-194313
出願日 2011/9/6
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2013-054011
公開日 2013/3/21
登録番号 特許第5647084号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 面法線計測装置、面法線計測システム及び面法線計測プログラム
技術分野 情報・通信
機能 検査・検出、機械・部品の製造
適用製品 面法線計測装置、面法線計測システム及び面法線計測プログラム
目的 物体表面の反射特性に鏡面反射成分を含むことを必要とせず、物体表面までの距離の計測も必要とせずに面法線を計測する。
効果 計測対象物体の表面の反射特性の影響を大きく受けることなく、また、物体表面の各点までの距離を測定することなく、面法線を計測することができる。また、参照データベースが校正データとして機能し、面法線を正確に求めることができる。
面法線の成分ごとの参照陰影ベクトルを高精度に作成することができる。
技術概要
面法線計測システム1は、ガイドレールRx,Ryに沿って、互いに直行する平面内を移動して物体OBJに対する照明方向を変化させる照明装置30と、物体OBJを撮影する撮影装置40と、撮影装置40によって撮影された画像に基づいて物体OBJの表面の面法線を計測する面法線計測装置10とを備える。面法線計測装置10は、物体OBJの画像を2値化し、画素ごとに、照明方向と明暗とが対応付けられた陰影ベクトルを作成し、予め形状が既知の参照物体について作成した参照陰影ベクトルと面法線とが対応付けられたデータベースを参照して、物体OBJの陰影ベクトルと最も類似する参照陰影ベクトルに対応付けられた面法線を、その画素における面法線と推定する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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