対応点探索装置と対応点探索プログラム並びに対応点探索方法

開放特許情報番号

L2015000292

開放特許情報登録日

2015/2/23

最新更新日

2019/1/30

基本情報

出願番号	特願2014-226566
出願日	2014/11/7
出願人	国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号	特開2016-091391
公開日	2016/5/23
登録番号	特許第6441032号
特許権者	国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称	対応点探索装置と対応点探索プログラム並びに対応点探索方法
技術分野	情報・通信
機能	機械・部品の製造、検査・検出
適用製品	３次元モデル同士での対応点の探索処理
目的	対応点探索装置の探索精度を向上させる。
効果	本発明によれば、対応点の探索精度を向上させることができる。
技術概要	点群から構成される第１の３次元モデルと第２の３次元モデルとの各点の位置情報と接続情報とが記憶される記憶部と、 前記３次元モデルのそれぞれについて、前記点群の中から複数のサンプリング点を決定するサンプリング点決定部と、 前記記憶部に記憶されている前記サンプリング点ごとの位置情報と接続情報とを用いて、前記サンプリング点ごとの特徴量を算出する特徴量算出部と、 前記特徴量に基づいて、前記第１の３次元モデルのサンプリング点と前記第２の３次元モデルのサンプリング点同士の類似度を算出する類似度算出部と、 前記類似度に基づいて、前記第１の３次元モデルの各サンプリング点に対応する点を前記第２の３次元モデルのサンプリング点の中から決定する対応点決定部と、 を有してなり、 前記特徴量算出部は、サンプリング点ごとに、 ３次元モデルの曲面上での法線方向をＺ方向、前記曲面上での平均拡散距離の勾配方向をＹ方向とする仮想カメラの座標系において局所深度画像を構築し、 前記局所深度画像に含まれる各画素の深度を用いて特徴量を算出する、 ことを特徴とする対応点探索装置。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人産業技術総合研究所

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】