検査装置および検査方法

開放特許情報番号
L2014002431
開放特許情報登録日
2014/12/26
最新更新日
2014/12/26

基本情報

出願番号 特願2012-225361
出願日 2012/10/10
出願人 公立大学法人首都大学東京
公開番号 特開2014-077697
公開日 2014/5/1
発明の名称 検査装置および検査方法
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 検査・検出、制御・ソフトウェア
適用製品 検査装置および検査方法
目的 オンチップおよびオフチップの両方に対応可能な劣化検知回路を提供する。
効果 回路から出力された出力信号に基づいて判定を行っているため、オンチップおよびオフチップの両方に対応できる。
回路から出力された出力信号に基づいているため、オンラインで劣化の検知ができる。
予め設定された遅延時間を変更することで、劣化の検知範囲を変更できる。
技術概要
入力信号6に応じた処理を行って出力信号7を出力する回路2に対して、回路2の経時的な劣化を検出する劣化検出装置11であって、回路2の出力信号7が入力されるとともに、回路2の使用開始初期の出力信号に対する現在の出力信号の遅延を検出する遅延検出手段21と、遅延検出手段21で検出された遅延が、予め設定された遅延を超えた場合に、回路2が劣化したと判定する劣化判定手段22と、を備えた回路の劣化検出装置11。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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