光学特性測定システム

開放特許情報番号

L2014002401

開放特許情報登録日

2014/12/26

最新更新日

2017/4/5

基本情報

出願番号	特願2012-255092
出願日	2012/11/21
出願人	国立大学法人宇都宮大学
公開番号	特開2014-102869
公開日	2014/6/5
登録番号	特許第6083596号
特許権者	国立大学法人宇都宮大学
発明の名称	光学特性測定システム
技術分野	情報・通信
機能	検査・検出、制御・ソフトウェア
適用製品	光学特性測定システム、光学特性計測方法及び光学系
目的	物体に形成される複屈折分布等の光学特性の測定又は評価を支援することが可能な光学特性測定システムを提供する。
効果	本発明の実施形態に係る光学特性測定システム、光学特性計測方法及び光学系によれば、物体に形成される複屈折分布等の光学特性の測定又は評価を支援することができる。
技術概要	実施形態に係る光学特性測定システムは、光学系及び光学特性算出部を備える。光学系は、互いに直交する偏光方位を有する第１の複数の偏光成分をそれぞれ含み、かつ位相及び周波数の少なくとも一方が互いに異なる複数の変調量で変調された参照光としての複数の参照ベクトル波を、前記偏光方位を有する第２の複数の偏光成分を含む被検物体からの透過光又は反射光としての被検ベクトル波と、対応する偏光成分ごとにそれぞれ合成することによって前記複数の変調量及び前記偏光方位に対応する複数の偏光の強度を取得する。光学特性算出部は、前記複数の偏光の強度に基づいて、少なくとも観測位置における前記被検ベクトル波の前記第２の複数の偏光成分の各振幅を求める。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	宇都宮大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】