デバイス固有情報の誤り率制御方法とデバイス固有情報の誤り率制御プログラム

開放特許情報番号

L2014002260

開放特許情報登録日

2014/11/17

最新更新日

2019/2/20

基本情報

出願番号	特願2016-545474
出願日	2015/8/20
出願人	国立研究開発法人産業技術総合研究所
公開番号	WO2016/031682
公開日	2016/3/3
登録番号	特許第6445570号
特許権者	国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称	デバイス固有情報の誤り率制御方法とデバイス固有情報の誤り率制御プログラム
技術分野	電気・電子、情報・通信
機能	制御・ソフトウェア
適用製品	デバイス固有情報の誤り率を制御する技術
目的	デバイス固有情報の誤り率を制御することのできる方法及びプログラムを提供すること。
効果	デバイス固有情報の誤り率を制御することができる。
技術概要	本発明は、ｉ個(ｉは任意の自然数)の入力データを物理複製困難回路にそれぞれｊ回(ｊは任意の自然数)入力し、ｊ個のレスポンスをそのまま(ｊ’＝ｊ)、あるいはｊ’個(０＜ｊ’＜ｊ)に加工(具体的には、例えばｊ個をｊ’個の部分集合に分割し、各部分集合内でレスポンスの各軸の値の最頻出値(最頻出値が複数ある場合にはそのいずれか)をその部分集合を代表するレスポンスのその軸の値と)して各々の入力データと上記物理複製困難回路のＩＤと対応付けて予め記憶手段に記憶させる第１のステップと、記憶手段に上記物理複製困難回路のＩＤとｉ個の入力データを入力して、それぞれの入力データに対応するｊ’個のレスポンスを記憶手段から読み出して連結し、連結したデータをさらにｋ’個繰り返し連結(０＜ｋ’≦ｋ、かつ、ｋは任意の自然数)することにより、各入力データにつき(ｊ’×ｋ’)個分のレスポンスを得る。
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【否】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立研究開発法人産業技術総合研究所

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】