| 出願番号 |
特願2013-030178 |
| 出願日 |
2013/2/19 |
| 出願人 |
国立研究開発法人情報通信研究機構 |
| 公開番号 |
特開2014-159991 |
| 公開日 |
2014/9/4 |
| 発明の名称 |
複数の電磁波源からの電磁波の比吸収率の測定方法 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 |
複数の電磁波源からの電磁波の比吸収率の測定方法 |
| 目的 |
マルチアンテナ送信システムの無線機器からの電磁波の比吸収率（ＳＡＲ）の評価にかかる時間を従来に比べて短縮する。 |
| 効果 |
Ｎ（Ｎ−１）+１回の測定でＳＡＲを評価できるようになり、必要な測定回数が少なくなることで、測定時間の短縮を図ることができる。
例えば、０とπから選択した値の組み合わせを用いることで、その正弦項を削除することができるので、定数項と余弦項の係数をまず決定し、次に、数１７の各項の係数を容易に決定することができる。 |
技術概要
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観測地点における合成電界を、各アンテナからの電波の線形結合とし、
（１）測定点における電界ベクトルまたはその強度の自乗の測定を所定のアンテナ励振位相の組合せで、ベクトルプローブまたはスカラープローブで行い、（２）測定値から、電界ベクトルの強度の自乗を、その位相のみの関数として確定し、（３）確定した関数の最大値を、各位相の組合せを所定の精度で求める。また、電磁界ベクトルの強度の自乗を、位相に依存しない定数項、位相の位相差の余弦項、位相差の正弦項に分けて、測定値から、電磁界ベクトルの強度の自乗を、上記位相のみの関数として確定する。まず、位相の設定値として、０またはπを用い、余弦項の係数を決定する。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)