| 出願番号 |
特願2011-225394 |
| 出願日 |
2011/10/13 |
| 出願人 |
国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 |
特開2013-088113 |
| 公開日 |
2013/5/13 |
| 登録番号 |
特許第5879567号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 発明の名称 |
Ｘ線回折試料揺動装置、Ｘ線回折装置及びＸ線回折パターンの測定方法 |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 |
Ｘ線回折試料揺動装置、Ｘ線回折装置及びＸ線回折パターンの測定方法 |
| 目的 |
粗粒かつ微少試料であっても均一な回折リングを得ることができるＸ線回折試料揺動装置、Ｘ線回折装置及びＸ線回折パターンの測定方法を提供する。 |
| 効果 |
本発明のＸ線回折試料揺動装置は、Ｘ線回折試料を３つの軸の周りに揺動させることができ、Ｘ線回折パターンを測定したときに、均一な回折リングが得られ、その結果、結晶構造因子の精密化につながり、結晶構造中の原子位置が精密に求められる。
本発明のＸ線回折装置は、均一な回折リングが得られ、その結果、結晶構造因子の精密化につながり、結晶構造中の原子位置が精密に求められる。 |
技術概要
 |
Ｘ線回折試料を保持する試料保持部をＸ線入射方向と平行にした第１の回転軸の周りに揺動可能な第１の揺動部と、
前記第１の回転軸と直交する第２の回転軸の周りに揺動可能な第２の揺動部と、
前記第１及び第２の回転軸と直交する第３の回転軸の周りに揺動可能な第３の揺動部を有することを特徴とするＸ線回折試料揺動装置。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
)