X線回折試料揺動装置、X線回折装置及びX線回折パターンの測定方法

開放特許情報番号
L2014001956
開放特許情報登録日
2014/10/16
最新更新日
2016/4/19

基本情報

出願番号 特願2011-225394
出願日 2011/10/13
出願人 国立研究開発法人物質・材料研究機構
公開番号 特開2013-088113
公開日 2013/5/13
登録番号 特許第5879567号
特許権者 国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称 X線回折試料揺動装置、X線回折装置及びX線回折パターンの測定方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 X線回折試料揺動装置、X線回折装置及びX線回折パターンの測定方法
目的 粗粒かつ微少試料であっても均一な回折リングを得ることができるX線回折試料揺動装置、X線回折装置及びX線回折パターンの測定方法を提供する。
効果 本発明のX線回折試料揺動装置は、X線回折試料を3つの軸の周りに揺動させることができ、X線回折パターンを測定したときに、均一な回折リングが得られ、その結果、結晶構造因子の精密化につながり、結晶構造中の原子位置が精密に求められる。
本発明のX線回折装置は、均一な回折リングが得られ、その結果、結晶構造因子の精密化につながり、結晶構造中の原子位置が精密に求められる。
技術概要
X線回折試料を保持する試料保持部をX線入射方向と平行にした第1の回転軸の周りに揺動可能な第1の揺動部と、
前記第1の回転軸と直交する第2の回転軸の周りに揺動可能な第2の揺動部と、
前記第1及び第2の回転軸と直交する第3の回転軸の周りに揺動可能な第3の揺動部を有することを特徴とするX線回折試料揺動装置。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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