薄膜太陽電池の評価方法および製造方法

開放特許情報番号
L2014001686
開放特許情報登録日
2014/9/15
最新更新日
2016/3/23

基本情報

出願番号 特願2012-177482
出願日 2012/8/9
出願人 本田技研工業株式会社
公開番号 特開2014-036163
公開日 2014/2/24
登録番号 特許第5872416号
特許権者 本田技研工業株式会社
発明の名称 薄膜太陽電池の製造方法
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 薄膜太陽電池の評価方法および製造方法
目的 単位電池となるセルにおいて導電率が向上した範囲を破壊することなく特定する薄膜太陽電池の評価方法を提供する。
効果 単位電池となるセルにおいて導電率が向上した範囲を破壊することなく特定することができる。また、本発明に係る薄膜太陽電池の製造方法によれば、単位電池における短絡を防止しつつ、発電に寄与しないデッドスペースを低減して発電効率を高めることができる。
技術概要
第1電極層と光吸収層と第2電極層とが積層された単位電池を電気的に直列接続してなる薄膜太陽電池の評価方法は、薄膜太陽電池が、単位電池となる2つのセルの一方のセルに含まれる第1電極層と、他方のセルに積層される第2電極層とを電気的に接続するコンタクト電極部を備え、コンタクト電極部は2つのセルで共有する光吸収層の一部分に対してレーザ光を照射することで当該部分の光吸収層を改質させてその導電率を向上させたものであり、コンタクト電極部が形成された部分を含む所定領域を狙って外部の光源からの光を走査して所定領域のフォトルミネセンスを測定するステップと、測定された発光強度が所定の閾値以下に低下した領域を、光吸収層の導電率が向上した領域であると特定するステップと、を有する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2017 INPIT