真性複素透磁率の推定方法

開放特許情報番号
L2014001631
開放特許情報登録日
2014/9/5
最新更新日
2015/12/25

基本情報

出願番号 特願2014-059534
出願日 2014/3/24
出願人 国立大学法人信州大学
公開番号 特開2015-184852
公開日 2015/10/22
発明の名称 真性複素透磁率の推定方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 解析対象物の真性複素透磁率を推定する方法
目的 解析対象物の真性複素透磁率を正確に推定する方法を提供する。
効果 解析対象物の真性複素透磁率を正確に推定することができ、これにより、電磁界解析ソフトウェアを用いる高周波磁気デバイス等の解析を正確に行うことができる。
技術概要
解析対象物の複素透磁率を実測する装置の測定系をモデル化し、
測定系のモデルに解析ソフトウェアを適用して、解析対象物の複素透磁率を解析し、解析に用いた複素透磁率の入力値と複素透磁率の解析結果とが、設定した誤差範囲内に収束したときに、解析した結果の複素透磁率を解析対象物の真性複素透磁率とすることを特徴とする真性複素透磁率の推定方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

アピール内容 譲渡についての可・不可はその時の状況によります。

登録者情報

登録者名称 株式会社信州TLO

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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