非接触放電評価方法及び装置

開放特許情報番号
L2014001456
開放特許情報登録日
2014/8/20
最新更新日
2016/2/19

基本情報

出願番号 特願2012-013305
出願日 2012/1/25
出願人 国立大学法人九州工業大学
公開番号 特開2013-152155
公開日 2013/8/8
登録番号 特許第5854468号
特許権者 国立大学法人九州工業大学
発明の名称 非接触放電評価方法及び装置
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 非接触放電評価方法及び装置
目的 放電の大きさ(電荷量や電流ピーク値)やエネルギーを、発光に基づく光学測定により取得して評価する。
効果 放電の大きさ(電荷量や電流ピーク値)やエネルギーを、非接触で電磁ノイズ環境の悪いところでも、発光に基づく光学測定により取得して評価することができる。
また、本発明は、電力や電気機器などの高電圧、電気絶縁分野、電気電子機器などの静電気放電試験分野および自動車や電気エネルギー機器の製造および保守運用分野で用いることができる。
技術概要
放電源に、既知の電源より放電源に電圧を印加することにより放電発光させ、この放電発光の強度波形を受光素子を用いて測定し、同時に放電電流波形を電流変換プローブや電流波形検出器で測定して、それらの波形を解析した解析データとの関係を、印加電源情報を考慮して記録したデータベースを作成する。測定対象機器から発生した放電発光の強度波形を、受光素子を用いて測定して、その波形を解析することにより求められた発光データを、データベースに記録されているデータと比較することにより、放電の大きさを値として推定する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【有】   
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