電磁波識別方法及び識別装置
- 開放特許情報番号
- L2014001435
- 開放特許情報登録日
- 2014/8/20
- 最新更新日
- 2021/6/14
基本情報
出願番号 | 特願2012-194809 |
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出願日 | 2012/9/5 |
出願人 | 国立大学法人九州工業大学 |
公開番号 | |
公開日 | 2014/3/20 |
登録番号 | |
特許権者 | 国立大学法人九州工業大学 |
発明の名称 | 電磁波識別方法及び識別装置 |
技術分野 | 情報・通信 |
機能 | 検査・検出、機械・部品の製造 |
適用製品 | 電磁波識別方法及び識別装置 |
目的 | 検出電磁波が直達波であるかどうかを区別して、検出する。 |
効果 | 放射源からの検出電磁波波形が直達波かどうかを区別することができ、検出電磁波から機器の異常状態を評価する全ての装置に対して、直達波を選別して評価することでその信頼性が向上する。
また、電磁波可視化装置では、可視化結果が何もない空間や、発生しそうにない場所に表示されると、その評価は誤りであることが容易に理解できる一方、回折波と知らずに標定して、発生しそうな場所に誤って評価された場合、その標定結果を「回折波による標定結果」と表示することで、結果の誤りの可能性を喚起できることになる。 |
技術概要![]() |
放射源から放射された電磁波を受信して、該電磁波が直達波であるかどうかを識別する電磁波識別方法において、
所定レベル以上の電磁波信号を検出し、 該検出された電磁波波形データを記録し、保存し、 前記記録し、保存された電磁波波形データを入力して、該電磁波波形データを最大振幅値で規格化した規格化データを用いて、受信電磁波が直達波かどうかを評価し、 該直達波かどうかの評価は、前記規格化データの振幅値のヒストグラムから尖度の値を求め、該尖度の値が所定のしきい値以上かどうかで行い、或いは前記規格化データから正規確率プロットを求め、所定の確率値での規格化データの値が所定のしきい値以上或いは以下であるかどうか、又は所定の規格化データの値での確率値が所定の確率値以上或いは以下であるかどうかで行う、ことから成る電磁波識別方法。 |
実施実績 | 【無】 |
許諾実績 | 【無】 |
特許権譲渡 | 【否】 |
特許権実施許諾 | 【可】 |
アピール情報
アピール内容 | この技術では、特に、スパーク等、非常に短く微弱な電磁波もキャッチでき、その発生状況の分析が可能です。例えば、自動化された環境(スマートファクトリ等)の運用監視あるいは制御も可能となりうる技術です。実用化に近い技術です。※関連特許:特許第6041213、特許第5854468等 |
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登録者情報
登録者名称 | |
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その他の情報
関連特許 |
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