出願番号 |
特願2014-086323 |
出願日 |
2014/4/18 |
出願人 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
公開番号 |
特開2015-206641 |
公開日 |
2015/11/19 |
登録番号 |
特許第6614631号 |
特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
発明の名称 |
強磁性共鳴測定装置 |
技術分野 |
情報・通信 |
機能 |
検査・検出、制御・ソフトウェア |
適用製品 |
強磁性共鳴測定装置 |
目的 |
S/N比が低く、ミクロンからナノサイズレベルの極めて小さい磁性体試料について強磁性共鳴の測定ができる装置を提供する。 |
効果 |
改良された干渉計と微分検出法を組み合わることにより、より優れた性能を示す強磁性共鳴測定装置を発明した。
本発明によれば、試料サイズが小さい場合であっても、課題が解決され、更に高いS/N比が実現される。 |
技術概要
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マイクロ波発振器、該発振器から出力されたマイクロ波を第1マイクロ波と第2マイクロ波に分ける分岐器、第1マイクロ波を伝送する第1経路、第2マイクロ波を伝送する第2経路、第1経路の途中に設けられた導波路、試料に外部直流磁場H↓Bを印加する磁石、第1経路もしくは第2経路又はその両方に設けられた“n+0.5”波長、ただしnは整数、ずらせる位相シフタ、第1経路もしくは第2経路又はその両方に設けられた振幅調整器、第1経路を伝送した第1マイクロ波と第2経路を伝送した第2マイクロ波とを結合する結合器、該結合器から出力したマイクロ波を増幅する増幅器、及び前記増幅器から出力したマイクロ波を検出する検出器を有する装置であって、
前記導波路の途中に配置された試料Sに、第1マイクロ波により誘起された高周波磁場H↓(RF)が印加され、前記外部直流磁場H↓Bの強度を掃引することにより所定強度で試料Sに強磁性共鳴を起こさせる強磁性共鳴測定装置において、
前記試料Sに低周波変調磁場H↓(LF)を印加する手段、及び前記検出器の出力信号から前記低周波変調磁場H↓(LF)の変調周波数成分だけを抽出する手段を付加したことを特徴とする強磁性共鳴測定装置。 |
実施実績 |
【無】 |
許諾実績 |
【無】 |
特許権譲渡 |
【否】
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特許権実施許諾 |
【可】
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