被測定物形状測定治具及び三次元形状測定方法

開放特許情報番号
L2014001162
開放特許情報登録日
2014/7/10
最新更新日
2014/7/10

基本情報

出願番号 特願2008-167087
出願日 2008/6/26
出願人 株式会社ミツトヨ
公開番号 特開2010-008193
公開日 2010/1/14
登録番号 特許第5059700号
特許権者 株式会社ミツトヨ
発明の名称 被測定物形状測定治具及び三次元形状測定方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 被測定物形状測定治具及び三次元形状測定方法
目的 被測定物の表裏面の三次元測定を高精度かつ高速に行う。
効果 被測定物の表裏面の三次元測定を高精度かつ高速に行うことができる。
また、座標変換により位置合わせし、一つの工程で測定した三次元形状データとして解析することができる。
さらに、精度を高め、表裏面の偏心及び傾きの測定を高速に行うことができる。
よって、本発明によれば、三次元形状測定によりレンズ等の表裏面で光軸が一致するように製造されるべき被測定物の偏心や傾きを測定するのに有用である。
技術概要
第1面及びこれに対向する第2面を有する板状体と、
前記第1面及び前記第2面のそれぞれにおいてその表面が外部に露出するように前記板状体に固定された基準球と、
前記第1面及び前記第2面のそれぞれにおいてその外周表面が外部に露出するように前記板状体の側方に固定された基準円筒と、
前記板状体を貫通するように形成された孔部を有し被測定物の表面及び裏面がそれぞれ前記第1面及び第2面において露出するように前記孔部において前記被測定物を保持する被測定物保持部と
を備えた
ことを特徴とする被測定物形状測定治具。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】
実施権条件 <1>競合他社(製品)へのライセンスは原則行わない
<2>技術指導は原則行わない

登録者情報

登録者名称 株式会社ミツトヨ

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【有】   
Copyright © 2017 INPIT