テラヘルツ分光による材料の評価方法

開放特許情報番号
L2014000762
開放特許情報登録日
2014/4/29
最新更新日
2015/7/28

基本情報

出願番号 特願2011-203473
出願日 2011/9/16
出願人 国立研究開発法人情報通信研究機構
公開番号 特開2013-064646
公開日 2013/4/11
発明の名称 テラヘルツ分光による材料の評価方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 テラヘルツ分光による材料の評価方法
目的 有機化合物を主体として含む材料、無機化合物を主体とし有機化合物を含む材料または有機化合物と組合せて用いる無機化合物からなる材料の機能を、テラヘルツ分光を利用して、室温で感度よく観測し評価する方法を提供する。
効果 本発明によれば、有機化合物を主体として含む材料、無機化合物を主体とし有機化合物を含む材料または有機化合物と組合せて用いる無機化合物からなる材料の機能を、該材料を主体として構成する化合物の配列状態における分子軌道の乱れによって生じる自発分極によりテラヘルツ領域に出現する、大きな電気双極子の非対称振動由来の吸収を利用することで、室温で感度よく観測し評価することができる。
また、将来的に硬組織や再生医療に使用される足場材料の配向性や分子挙動の評価を行う方法として、本発明を応用できる可能性がある。
技術概要
有機化合物を主体とする材料、無機化合物を主体とし有機化合物を含む材料または有機化合物と組合せて用いる無機化合物からなる材料であり、該化合物が分子レベルで配列状態を形成している材料に、テラヘルツ波を照射して測定される周波数0.1〜10THzの領域における分光スペクトルを用いて該材料の機能を評価する方法であって、材料に所定の処理を加える前後に分光スペクトルを測定し、分光スペクトル間に出現する配列状態の構造の歪みに起因する非対称振動由来の吸収の変化を指標として機能を評価することを特徴とするテラヘルツ分光による材料の評価方法。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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