多波長測定装置

開放特許情報番号
L2014000757
開放特許情報登録日
2014/4/29
最新更新日
2015/10/22

基本情報

出願番号 特願2012-072316
出願日 2012/3/27
出願人 国立研究開発法人情報通信研究機構
公開番号 特開2013-205113
公開日 2013/10/7
発明の名称 多波長測定装置
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 多波長測定装置
目的 多波長での効率的な光学測定を可能とする多波長光学測定装置を提供する。
効果 多波長での効率的な光学測定を可能とする多波長光学測定装置を提供できる。
技術概要
多波長測定装置は,光共振器と,前記光共振器内に配置され,量子ドットまたは量子井戸をそれぞれ備え,互いに異なる複数の波長の光を発する,複数の構造体を積層してなる発光部材と,前記複数の波長の光のいずれかを選択する光学部材と,複数の成分を含む測定対象を透過した,前記選択された波長の光を受光する受光素子と,を具備する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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