磁気光学スペクトル分光装置、磁気光学スペクトル測定方法およびプログラム

開放特許情報番号
L2014000717
開放特許情報登録日
2014/4/25
最新更新日
2014/4/25

基本情報

出願番号 特願2010-273552
出願日 2010/12/8
出願人 日本放送協会
公開番号 特開2012-122835
公開日 2012/6/28
登録番号 特許第5469590号
特許権者 日本放送協会
発明の名称 磁気光学スペクトル分光装置、磁気光学スペクトル測定方法およびプログラム
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 磁気光学分光法、磁気光学スペクトル測定技術
目的 磁気光学効果として観測される信号の絶対値を校正すると共に効率よく測定する。
効果 本発明は、MOディスクのような情報ストレージ、安定的な光通信に必要不可欠なファラデー素子、さらには、ホログラムを用いた3次元ディスプレイなど、磁気光学効果が使用されているさまざまな応用技術に利用できる。
技術概要
磁気光学スペクトル分光装置1は、偏光面の角度φ1,φ2が調整可能な回転機構付き直線偏光板4,7と、回転偏光子法を用いた各直線偏光板4,7における偏光面の角度別のそれぞれの測定値41に基づいてカー回転角の絶対値43をそれぞれ算出する第1算出手段51と、カー回転角の絶対値43と第1直線偏光板4における偏光面である入射光偏光面の角度φ1との相関の有無を判別する相関判別手段52と、相関が無いと判定された場合、偏光変調法を用いた測定値42に基づいて試料のカー回転角のスペクトル44を算出する第2算出手段53と、スペクトル44におけるカー回転角の値をカー回転角の絶対値43に適合させる乗算を行い、校正されたスペクトルを当該試料の磁気光学特性のスペクトル45として算出する第3算出手段54とを備える。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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